桌面式X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪

产品特点：

小型化桌面式设计，维护成本低

采用大口径晶体，具有更高收光效率和信噪比

高精度、高稳定性扫描机构，提高分辨率及数据准确度

安全防护联锁，有效避免辐射伤害

具有7位样品架，可自动换样，提高测量效率

一键快速测量，单次仅需30min，高效便捷

远程数据传输，实时查看实验进程和结果

高能谱分辨，获得与同步辐射接近的吸收谱数据

数据分析及解读，出具专业的分析报告

支持原位测试等扩展功能

主要参数

• 能量范围：4.5~ 20 keV（单次扫描范围>600eV @ 7~9keV)
• 能量分辨率：0.5 ~ 3 eV （7~9keV，近边）
• X射线光源：1.2 kW X射线光管，靶材可订制
• 光通量：200,000 ~1,000,000 photons/sec @ 9keV
• 单色器晶体：口径100mm，半径500mm球面Si或Ge弯晶
• 探测器：SDD探测器
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主要应用领域：

• 新能源：锂电池及其他二次电池材料研究、燃料电池研究、储氢材料研究、光合作用与碳捕获。通过XAFS可获得核心原子在充放电循环及电化学反应过程中的浓度、价态、配位环境及其动态变化。
• 催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等，以及含量极低的金属离子的近邻结构。
• 材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究，放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。
• 生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。
• 环境科学：广泛用于玻璃、土壤、塑料、煤、铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析，动植物组织等样品分析，重金属污染检测等。